二手 KLA / TENCOR Archer 300 #9311042 待售
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單擊可縮放
ID: 9311042
晶圓大小: 12"
優質的: 2011
Overlay measurement system, 12"
Triple FOUP
Frontend: (3) Loadports
GEM / SECS and HSMS
E84 Enabled for OHT and AGV / RGV
(3) PIO Devices for OHT
E87 Based on E39
E40 / E94 / E90
CMP Measurement option
Adaptive noise reduction algorithm
Variable illumination spectrum
Color filter
(3) ADVANTAG Radio Frequency (RF) carrier ID Readers
Geometric model finder
Log recipe change file
S2 and CE Compliant
Signal tower
Operation manual on CD
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
2011 vintage.
KLA/TENCOR Archer 300是面罩和晶片行業的領先檢測設備,具有高分辨率成像系統和先進的微處理器。它旨在滿足當今快速移動的半導體制造環境的要求，為檢測和校正晶圓和掩模圖樣光刻中的缺陷提供可靠的解決方案。該單元采用雙X射線攝像機和自動算法，使操作員能夠快速準確地檢測和分析模式缺陷。機器的「自動查找和表征」（AFaC）功能掃描被檢查的晶片或掩碼是否有缺陷,然後將生成的圖像傳達給用戶。該工具還具有直觀的用戶界面,以實現最佳的可用性。該資產支持多種晶圓和掩碼大小,並且能夠檢測各種缺陷。它可以檢查直徑不超過8英寸或20厘米的晶片和尺寸不超過1.2米的掩模。該模型采用了先進的4K成像和自動檢測算法，從而能夠更快地檢測和分析缺陷。為了保證最佳性能，設備設計得非常堅固可靠。它采用模塊化設計,便於安裝、維護和故障排除。具有可靠的診斷功能和先進的熱補償技術，保證了缺陷檢測和測量的穩定性。此外,用戶可以自定義檢查參數以確保其應用程序的最佳性能。KLA Archer 300是檢查不同層和過程的掩模和晶圓圖樣光刻的理想選擇。它是確保生產質量的可靠工具,能夠高效、經濟高效地滿足客戶的需求。該系統具有業界領先的性能、可靠性和特點,是半導體制造商的絕佳選擇。
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