二手 KLA / TENCOR Archer 500 AIM #293653553 待售

KLA/TENCOR Archer 500 AIM是一種掩模和晶圓檢查設備，能夠對小元件進行3 D表面掃描。該系統配有高分辨率光學、先進算法和通用跟蹤單元，以確保一致和準確的成像。這臺機器能夠檢測廣泛的掩模和晶圓結構中的小缺陷，包括人造結構、微電子學中發現的結構以及其他非常小的組件。掩模和晶片檢查工具采用先進的高分辨率光學元件，這些元件經過專門設計，使資產能夠檢測到傳統光學顯微鏡無法檢測到的小缺陷。由於其強大的光學模型和復雜的機器視覺算法，它具有獨特的理解受檢樣品3D結構的能力。這使得它可以在三個維度上掃描整個樣本或其中的任何部分。此外，設備采用創新的跟蹤系統，確保準確捕獲樣品的每一個移動。該單元具有非常快的檢測周期時間，專門為高速晶圓利用而設計，這使得它對一系列不同的應用具有吸引力。此外,它還使用了獨特的智能模式識別軟件,使其能夠檢測到常規光學顯微鏡未檢測到的任何狹窄缺陷。它還配備了用戶友好的圖形界面，方便使用，減少了檢查時間。該機器的設計非常方便用戶和經濟高效。最重要的是，它的設計方式使得工具是自學的，這意味著與傳統方法相比，它可以在很小的時間內檢測到小的缺陷。此外，資產的磁驅動系統有助於減少振動，從而顯著降低誤報率。總之，KLA Archer 500 AIM是一種多用途且高度復雜的模型，旨在檢測小掩模和晶片缺陷。由於先進的光學、復雜的算法和跟蹤設備,它能夠快速進行3 D掃描並檢測非常小的缺陷。其用戶友好的圖形界面、成本效益和自學算法使其成為任何掩模和晶圓檢測系統的一大財富。