二手 KLA / TENCOR Archer 500 AIM #9277003 待售

KLA/TENCOR Archer 500 AIM是一種掩模和晶圓檢測設備，為半導體行業的數據精度和性能設定了新的標準。該系統利用先進的成像和模式識別技術來檢測、測量和識別用於為晶圓和其他高科技設備創建集成電路的陣列電路層中的缺陷。該單元采用了幾種先進的工程技術，使其能夠以極高的速度和精確度檢查高度復雜的晶片和掩模。一種是Auto SEM,這是一種專有的圖像處理技術,它使用自動缺陷檢測來快速檢查陣列化的芯片層是否有損壞跡象。這臺機器還有一個Advanced Surface Inspection算法，使它能夠從晶圓上的任何一個點精確采樣和測量表面的任何小缺陷或幹擾。KLA Archer 500 AIM先進的模式識別能力使它能夠掃描微小的特征並檢測低對比度的缺陷，如顆粒汙染和顆粒刮擦。工具中包含的算法是復雜和專門的，使資產能夠識別其他檢查方法所遺漏的缺陷。此外,模型還可以檢測在制造過程中可能沒有註意到的芯片或零件比例缺陷。這是由設備的「高動態範圍成像」實現的,該「高動態範圍成像」既可查看嚴重缺陷,也可查看因常規檢查方法而遺漏或忽略的微小幹擾。TENCOR Archer 500 AIM的設計也非常經濟高效。它可以針對各種生產需求進行配置,並運行完全自動化的操作。該系統還配備了高級安全功能,可防止數據丟失或更改,確保保護芯片的完整性和客戶的機密性。綜上所述，Archer 500 AIM掩模和晶圓檢驗單元是一種在半導體制造操作過程中檢測和識別缺陷的高效、可靠和經濟高效的方法。該機利用先進的成像和模式識別技術，快速準確地檢測、測量和識別用於創建集成電路的陣列電路層中的缺陷。KLA/TENCOR Archer 500 AIM具有多才多藝的自動化功能、尖端的安全功能和高精度的性能,是現代高科技環境的寶貴工具。