二手 KLA / TENCOR Archer 5300 #9296115 待售

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ID: 9296115
Overlay measurement system.
KLA/TENCOR Archer 5300是一款口罩和晶圓檢測設備,它結合了業界領先的KLA檢測技術和Archer Analytics平臺強大、自動化的圖像編輯和分類功能。該系統為用戶提供了無與倫比的自動化級別,用於高分辨率掩碼和晶圓審查。KLA Archer 5300采用先進的光學設計,允許設備檢查多達5微米的特征細節。它具有直接繼承權晶片檢查(DHWI™)機器,可以快速掃描大面積,這樣就可以在不中斷當前檢查的情況下獲取高度放大的圖像。該工具還結合了先進的圖像處理算法和專有的機器視覺算法來識別復雜的缺陷。TENCOR Archer 5300允許用戶調整檢測功能,以分析任何大小、形狀或材料組成的樣品。該資產還擁有一個功能強大的自動化圖像分析平臺,允許用戶以高效和自動化的方式處理大量圖像數據。Archer 5300還包括Web可訪問功能,允許用戶查看任何設備的圖像和報告。為確保準確檢查,該模型包括一個靈活的用戶界面,允許操作員快速選擇自動缺陷分類、圖像增強和其他分析功能。KLA/TENCOR Archer 5300還包括一個內置的Metrology設備,可以測量小至一納米的特征。該系統還具有高度可靠的「即時」缺陷審查功能,允許用戶在獲取圖像時查看圖像。這有助於確保檢查過程的準確性和可重復性。總體而言,KLA Archer 5300為掩碼和晶圓檢測系統提供了完整的解決方案。憑借先進的光學設計和強大的圖像處理算法,TENCOR Archer 5300非常適合滿足小型和大型制造商的需求。
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