二手 KLA / TENCOR Archer AIM+ #293821668 待售

KLA/TENCOR Archer AIM+是一種用於半導體制造的掩模和晶圓檢測設備。它是一種高性能的高產率過程控制工具,其分辨率和準確性是業界無法比擬的。AIM+提供了分辨率、視野和精度的獨特組合,顯著提高了吞吐量潛力和數據分析的質量。通過使用先進的算法和各種各樣的自動化工具，該系統提供了全面的掩碼和晶圓檢查分析能力。該單元設計用於檢查遮罩標線、晶片亞光刻、多層和背面塗層、焊膜和碰撞。它擁有集成相機控制器、自動化對焦機和圖像處理器，提供無與倫比的圖像分析功能，甚至提供結構的3-D分析。AIM+利用幾種先進的算法來分析打印層和缺陷，包括顏色極性、結構、侵蝕和控制混合成像。它還提供了幾種專有的模式識別算法,以增加檢測功能,並具有高動態範圍和明亮場成像功能。該工具具有手動和自動化功能,包括選擇目標特征、聚焦位置和檢查攝像機方向以提供最佳結果的功能。它還提供用戶友好的GUI和簡單的操作,支持多種語言、簡化的編程和最小的校準。該資產具有很高的可擴展性,可配置用於多個芯片設備以及不同類型的圖像分析應用程序,如計量和3-D成像。它也可以很容易地集成到現有的半導體制造過程中。為了便於數據分析和報告,KLA Archer AIM+配備了強大的數據存儲子系統、快速回溯功能和出色的定位精度。此外，該模型利用高精度的基準標記檢測能力，提供了卓越的對齊和缺陷的一對一關聯。TENCOR Archer AIM+是一種先進而堅固的掩模晶圓檢測設備，具有半導體制造所需的功率和精度。它提供必要的分辨率和視野,以及自動化和手動功能,以提供卓越的圖像分析和結構三維檢查。該系統采用多種專有算法以及集成的攝像頭控制器、數據存儲和快速回溯功能,為掩碼和晶圓檢測提供了全面、通用的解決方案。