二手 KLA / TENCOR Archer AIM+ #9109277 待售

KLA/TENCOR Archer AIM+是為現代半導體工業設計的先進的掩模和晶圓檢測設備。該自動化系統為關鍵的光掩碼和標線應用程序提供檢查和審查工具。KLA Archer AIM+能夠檢測過程開發和生產關鍵層的缺陷。TENCOR Archer AIM+旨在提供最大限度的檢驗精度和成本節約。它采用多種技術，包括顯微鏡成像、光散射和偏振光成像，以便檢測缺陷，而無需進行復雜的人工樣品制備。Archer AIM+還使用專有算法和高級模式識別來檢測細微的幾何和光掩模缺陷。其即時檢測和表征缺陷的能力進一步減少了準備和檢查時間。KLA/TENCOR Archer AIM+還提供全面的評審功能。這包括模式分析和跟蹤、缺陷識別和審查,以及跟蹤和分析。設備的高級模式庫允許與行業標準模式以及用戶定義的自定義模式進行比較。KLA Archer AIM+還提供了多個註釋和叠加選項,以協助審核過程。TENCOR Archer AIM+除了具有強大的缺陷檢測和審核功能外,還提供自動缺陷檢測、缺陷群集檢測和報告功能。它靈活、模塊化的平臺為在線和離線集成提供了可擴展性,允許各種應用程序和過程。Archer AIM+擁有廣泛的軟件和硬件選項,適用於廣泛的光掩碼和標線檢查應用。KLA/TENCOR Archer AIM+是一個自動化的、經濟高效的解決方案,用於檢測和查看光掩碼和標線缺陷。該機器提供可靠的缺陷檢測和審查功能,以及自動缺陷檢查、群集分析和報告。全面的模式庫和註釋功能可幫助用戶快速、準確地識別和表征缺陷。KLA Archer AIM+還提供了流程集成的可擴展平臺，使其成為各種生產環境的理想選擇。