二手 KLA / TENCOR Archer AIM+ #9144983 待售

KLA/TENCOR Archer AIM+是一種自動化的掩模和晶圓檢測設備，為先進的設備開發提供高清成像、先進的測量精度和高通量。該系統將先進的掩碼和晶圓檢測技術與先進的算法結合在一起，提供了一個高效、自動化的過程，大大提高了設備產量。KLA Archer AIM+單元利用亮場和暗場成像技術檢測模具、口罩和封裝頂部等基板上的缺陷。明亮的磁場為掩碼、封裝和翻轉芯片提供高對比度成像,從而能夠快速檢查缺陷並實現精確的局部分析。暗場成像用於晶圓圖像和掃描，使機器能夠檢測對比度較低的基板上的缺陷。該工具對掩模和基板執行自動對齊和對焦掃描,並支持多種計量功能。它具有自動化的缺陷分類,以及硬件加速的圖像縮放功能,以支持高精度和高精度。該資產可提供快速的圖像處理速度,從而縮短運行時間並加快周轉時間。還優化了多種缺陷類型的速度和精度，如顆粒缺陷、角紋缺陷、窄線缺陷和模具移位檢測。通過自動化檢測過程，TENCOR Archer AIM+降低了人工成本，提高了生產效率。其先進的算法，洞察設計過程和直觀的導航工具提高整體精度和產量。此外,Archer AIM+還提供了集成分析,可深入了解生產數據。這些見解使用戶能夠確定需要改進的領域,並優化其流程以提高產量。總體而言,KLA/TENCOR Archer AIM+是一種自動掩碼和晶圓檢測模型,可提供高清成像、先進的測量精度和高通量,提高設備產量。它通過快速的處理速度和自動缺陷分類,以及直觀的導航和分析集成,幫助優化設備制造。