二手 KLA / TENCOR Archer AIM+ #9202700 待售

KLA/TENCOR Archer AIM+是半導體制造商用來保證生產過程質量和精確度的自動化掩模和晶圓檢驗設備。該系統使用先進的成像和分析算法來檢測半導體器件的掩模、晶圓和工藝層上的缺陷。KLA Archer AIM+單元構建在PixelTRAK 1000、SiliconVision XR、ProcessVerify、GEMIN3和IMAGE五個獨立的組件上。每個組件都有獨特的功能來簡化掩模和晶片檢查過程並提供準確的結果。PixelTRAK 1000是一種圖像采集機器，可以彌合手動和自動檢查過程之間的性能差距。該工具包括一個CCD攝像頭,用於捕獲從平板、滾筒或半導體載波送入資產的掩模或晶片的高分辨率圖像。可以針對所有可能的缺陷和檢查組合對圖像進行修改和引用,如缺陷檢測類型、攝像機角度和圖像窗口設置。SiliconVision XR是一種功能強大的圖像分析工具,旨在生成有關掩模或晶圓上缺陷的更詳細和精確的信息。該平臺利用模式識別算法、三維成像和機器學習技術，有效識別表面、芯片和設備缺陷。ProcessVerify是一個集成的審查平臺,旨在提高生產效率並降低運營成本。該技術允許公司跟蹤檢查過程中發生的所有更改,包括缺陷位置、缺陷分類和自動操作。GEMIN 3是一個測量模型，旨在測量和分析在生產和檢驗過程的不同階段延伸特征的表面形狀。該設備能夠測量深度範圍可達5m的物體和寬達10.7mm的視野。最後,IMAGE提供自動缺陷檢查和分類功能,可用於保證產品質量。該系統配備了專門的算法來識別模式、皺紋、裂紋、灰塵以及任何其他類型的不規則性。借助人工智能，單位可以提供深入的分析和詳細的缺陷數據。TENCOR Archer AIM+套件是一款功能強大、易於使用的用於掩模和晶圓檢測的機器。它為缺陷檢測、圖像分析和過程控制提供了多種功能，是半導體制造商的理想選擇。