二手 KLA / TENCOR Archer AIM+ #9237501 待售

KLA/TENCOR Archer AIM+是一種先進的掩模和晶圓檢測設備，旨在提供增強的過程控制、產量改進和誤差減少。該系統提供了前所未有的分辨率、靈敏度和檢測缺陷的速度。該單元由具有高分辨率相機的高級光學設計、圖像處理器和分析圖像的專有算法組成。這種先進技術的結合使機器能夠檢測到尺寸小至25納米的缺陷。該工具能夠揭示否則可能無法檢測到的關鍵陣列缺陷,因此非常適合檢查最關鍵的層以獲得精度和精確度。該資產旨在最大限度地減少操作員的互動並簡化檢查過程。它的圖形用戶界面（GUI）提供了易用性和對所有設置和組件的直觀訪問,允許快速、準確的設置和實時調整。模型是完全自動化的,如果需要,可以設置為無人值守運行。該設備不僅可以檢測口罩和晶片上的缺陷，還可以檢測臨界尺寸（CD）和陣列線寬等臨界參數的變化。它通過標記可能改變性能的任何變化來幫助確保無故障操作。該系統還提供全面的數據收集和分析軟件，使用戶能夠存儲和檢索數據，運行分析和監控流程。該單位的報告模塊會自動將結果與用戶定義的標準進行比較,從而方便地確定改進的領域。機器獨特的特性組合有助於確保最高質量的掩模和晶片。與傳統的檢驗系統相比，它還有助於節省時間和資源，同時提供更高的產量和更好的性能。