二手 KLA / TENCOR Archer AIM #9299449 待售

KLA/TENCOR Archer AIM是一種先進的自動化面罩和晶圓檢驗設備，旨在提供一套全面的質量控制能力。它利用光學顯微鏡和最先進的視覺分析軟件來檢查各種半導體掩模和晶片的物理缺陷。該設備利用自動化質量控制程序和系統的組合，包括自動圖像檢查、粒子檢測、3D計量和過程控制，為用戶提供無與倫比的精度和準確性，以完成廣泛的檢查任務。其最先進的光學、電子和軟件平臺能夠全面控制口罩和晶片的質量。KLA Archer AIM系統使用實時彩色成像來檢測粒子、結構缺陷和其他可能導致制造缺陷的微觀異常。它使用強大的軟件套件來精確測量和分析圖像,以便確定潛在的質量問題。這種高度先進的裝置旨在為任何程度的缺陷檢查提供準確的結果。該機器還具有一個精密的光學子系統，可以根據用戶的具體要求進行定制。它利用高端顯微鏡和集成相機工具，采用高分辨率成像和動態聚焦功能，以實現卓越的圖像檢查。這使得TENCOR Archer AIM能夠檢測任何掩模或晶圓中甚至最小的缺陷。Archer AIM資產能夠執行一系列高級測量和統計功能,例如過程優化和控制,以確保最佳性能。它還提供集成警報系統、遠程訪問和報告,以便於管理和通信。此模型旨在以較高的吞吐量提供準確、可靠的結果,從而為用戶節省時間和金錢。KLA/TENCOR Archer AIM是半導體行業質量控制的理想選擇。它為制造商提供了前所未有的精確度和準確性,確保始終符合質量和合規性法規。KLA Archer AIM具有廣泛的功能、強大的軟硬件平臺和直觀的控制系統,是掩碼和晶圓檢測的理想選擇。