二手 KLA / TENCOR Archer XT+ #117108 待售

KLA/TENCOR Archer XT+是一種用於檢測集成電路和半導體封裝電路缺陷的掩模和晶圓檢測設備。該系統非常適合檢查納米結構，因為它具有特殊的配置，可提供高度敏感的光學平臺。此外，該裝置擁有兩臺高效幹涉儀，一臺用於檢查可見光，另一臺用於檢查近紅外射程。與傳統顯微鏡相比，這提供了更大的景深，從而在檢查過程中提高了準確度。機器利用光波穿過電路和設備的納米結構，從而能夠進行徹底的評估。通過使用自動圖像處理，該工具能夠比較對象並檢測任何缺陷，如線緣粗糙度或連續斷裂。此外,資產還提供高級功能,例如可調節的變焦放大倍率,從而能夠對小型功能進行詳細分析和描述。KLA Archer XT+配備了直觀的軟件，可讓用戶調整靈敏度、檢查面積和圖像采集等各種參數。該模型還為用戶提供了幾種可視化技術，如叠加和假彩色成像選項。這有助於用戶快速檢測任何缺陷。該設備的設計允許快速、方便的設置，使其成為工業應用的絕佳選擇。此外，該系統還可以連接到其他系統和機器，以實現檢查任務的高效自動化。TENCOR Archer XT+還提供了高級欺詐和假冒檢測功能，允許安全可靠的數據安全和可追蹤性單元。Archer XT+是用於掩模和晶圓檢測的最先進的系統之一，其優異的性能和特點使其成為檢測納米結構的理想選擇。憑借其可靠的檢測能力和直觀的軟件，KLA/TENCOR Archer XT+在廣泛的檢測過程中一定能提供出色的效果。