二手 KLA / TENCOR Archer XT #9165076 待售

KLA/TENCOR Archer XT是一種業界領先的用於半導體制造高級工藝控制的面膜晶圓檢測設備。該技術用於集成電路等相關產品的生產，具有高分辨率成像和模式識別能力。該系統能夠識別到一微米以下的缺陷,並提供業界最先進的視覺效果和缺陷分析功能。它有能力對半導體器件進行快速的在線、蝕刻前和蝕刻後檢查，以及詳細的多級掩模檢查和薄膜計量。KLA Archer XT配備了專有的雙層成像，利用模式識別算法和高分辨率圖像的獨特組合。這種成像和缺陷檢測技術的結合，使該單元與市場上其他可比的選項脫穎而出。TENCOR Archer XT使用兩個可調成像系統來捕獲晶圓級的高分辨率「頂視圖」圖像和掩碼級的低分辨率「底視圖」圖像。它還能夠生成詳細的缺陷報告，允許用戶分析潛在缺陷站點並了解其起源或基本原因。Archer XT還能夠生成各種復雜的圖形,這些圖形可以顯示給定制造過程隨時間推移的發展趨勢。正是這類分析使得KLA/TENCOR Archer XT成為保持半導體制造機先進工藝控制需求的理想選擇。KLA Archer XT的綜合功能使其成為適用於任何環境的通用、可靠的掩碼和晶圓檢查工具。該資產的設計還便於與現有的制造工藝集成,並且向後兼容其他KLA產品。這意味著模型在新一代產品線中的操作方式與原始系統相同。使用TENCOR Archer XT可以簡化制造生產線的過程控制要求,並顯著提高生成一組高度可行的缺陷分析數據的幾率。數據分析可用於積極主動地進行過程控制,從而避免成本高昂且耗時的糾正過程。總體而言,Archer XT是一款先進的掩碼和晶片檢查設備,可提供一流的缺陷分析功能、詳細的圖形以及快速的在線前、後蝕刻檢查。該系統有助於高級流程控制,並允許用戶在任何潛在缺陷之前保持領先。KLA/TENCOR Archer XT是任何半導體制造環境的強大工具,為在不斷發展的集成電路生產世界中保持競爭力提供了必要的能力。