二手 KLA / TENCOR Archer XT+ #9221904 待售

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ID: 9221904
晶圓大小: 12"
優質的: 2007
Overlay measurement system, 12" 2007 vintage.
KLA/TENCOR Archer XT+是一種突破性的掩模和晶圓檢測設備,設計用於使用下一代掩模和晶圓工藝技術。該系統具有強大而靈活的圖像分析功能,可以快速識別掩模和晶片中的潛在缺陷,從而允許制造商在制造開始之前采取糾正措施。該單元由高級光學和圖像處理的強大組合組成,使其能夠快速準確地捕獲和處理圖像。該機包括一個與智能分析算法集成的高清多波長成像工具。這使得它能夠快速準確地檢測到掩模和晶片中的潛在缺陷。該工具的設計目的是對圖像進行快速和精確的分析,以查明潛在的問題,如粒子、汙染物、叠加誤差、反射率降低的區域和其他不規則之處。該資產采用靈活的體系結構設計,可輕松擴展並與其他技術和系統集成。這允許模型用於各種應用程序和生產環境。設備無需額外的設備或修改,從而減少了安裝時間和總體成本。KLA Archer XT+提供世界級的圖像分析和缺陷檢測功能。其領先的光學和圖像處理算法為用戶提供了高度準確的結果,並允許對大型圖像集進行快速分析。該系統包括用戶友好的圖形界面工具,使用戶能夠輕松解釋數據並快速解決潛在問題。該單元使用戶有信心在流程的每個步驟中建立質量。根據配置的不同,機器可以檢測到不同類型的缺陷,包括顆粒物、汙染物、叠加誤差和底切。用戶可以選擇使用更高級的算法和圖像處理選項來更準確地識別和解決潛在問題。該工具與一系列生產環境高度兼容,能夠在多種條件下運行,如高濕度、低光照條件和振動。這樣可以確保用戶能夠及時準確可靠地識別潛在問題,而不管他們所處的環境如何。TENCOR Archer XT+旨在讓制造商有信心快速解決潛在問題,並保持產品質量的最高水平。其先進的光學和智能圖像分析算法為用戶提供準確、及時的結果,而其靈活、可擴展的體系結構則確保了快速的設置和最短的停機時間。
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