二手 KLA / TENCOR Archer XT #9241251 待售

KLA/TENCOR Archer XT是一種掩模和晶圓檢測設備，設計用於提供半導體IC的高速、高精度表征。利用先進的光學和成像技術，KLA Archer XT可以高分辨率識別晶片表面上的特征和缺陷，即使是非常小的尺度。成像方面，TENCOR Archer XT配備了雙10-MPixel相機和高端光源。攝像機拍攝晶片表面的圖像，並與其他信號相結合，生成詳細的圖像，以便對缺陷進行準確和快速的表征。光源提供了透徹檢查設備所必需的最佳對比度和亮度水平。Archer XT還配備了模式識別系統，即使晶圓表面最小的缺陷也能精確檢測。通過將復雜的算法與自適應光學相結合，這個單元能夠檢測到即使是最小的缺陷，否則很難看到。KLA/TENCOR Archer XT具有用戶友好的GUI,易於操作。它還提供了多種功能強大的分析工具來幫助描述缺陷。這包括能夠分析多個圖像並將其與參考圖像進行比較、覆蓋單個圖像以快速識別潛在缺陷以及導出和分析各種格式的數據。KLA Archer XT除了具有掩模和晶圓檢查功能外，還能夠測量叠加精度、線寬和關鍵設計尺寸等工藝參數，為用戶提供有關其設計的詳細信息。機器還可以測量特定情況模式下的缺陷，允許用戶快速隔離問題並進一步調查。總體而言,TENCOR Archer XT是一種功能強大、用戶友好的掩碼和晶圓檢查工具,可以快速識別和隔離各種格式和曲面中的缺陷。配備先進的光學、成像技術和精密的分析工具，非常適合IC表征和設計驗證。