二手 KLA / TENCOR Archer XT+ #9365760 待售

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ID: 9365760
Overlay measurement system 2008 vintage.
KLA/TENCOR Archer XT+是一種先進的掩模和晶圓檢測設備,提供完整、業界領先的並行檢測覆蓋範圍。KLA Archer XT+專為晶片級檢查應用而設計,具有高分辨率彩色相機,可在其大視場上以高精度捕捉掩模晶片的完整圖像。該檢測系統非常適合用於生產先進的掩模和晶片設備,因為XT+提供了對整個功能區域的快速高效的檢測。XT+采用先進的檢查算法和掃描硬件,以無與倫比的速度和準確性,同時檢測塑料和玻璃掩模以及晶片上的缺陷。TENCOR Archer XT+還包括一套提供額外精度和性能級別的專用軟件工具。該設備針對掩模和晶片生產應用進行了優化,並提供了一組獨特的功能,旨在滿足最高精度要求。Archer XT+配備了一個高分辨率的全彩相機,可在很大的視場範圍內捕捉蒙版和晶圓表面的完整圖像。XT+包括一系列模式檢測、測量、可視化和分析工具,可幫助快速識別和分析整個曲面上的缺陷。該機器靈活的檢查技術可在不同的基材材料上提供快速可靠的結果,並具有各種視覺輔助工具和指標,可幫助用戶快速識別差異。KLA/TENCOR Archer XT+旨在提供強大的檢查性能,並覆蓋大視野。該工具具有主動成像資產,它以激光照明瞄準整個視野,不需要掃描。長壽命的成像幾何形狀可確保一段時間內性能一致,並提高缺陷檢測的準確性。KLA Archer XT+還配備了能夠測量表面地形的先進傳感器,用於識別和分類包括坑、裂縫和針孔在內的小缺陷。XT+針對性能和易用性進行了優化,它具有直觀的用戶界面、高效的工作流選項以及易於導航的示例圖像和數據庫。該軟件還提供強大的分析和報告能力,使用戶能夠優化模型性能和分析結果。TENCOR Archer XT+打造持久,占地面積緊湊,結構耐用。它是檢測掩模和晶片材料缺陷的理想解決方案,提供全面、高分辨率的檢測解決方案。
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