二手 KLA / TENCOR Candela CS20V #9412205 待售

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ID: 9412205
晶圓大小: 6"-8"
Wafer surface inspection system, 6"-8".
KLA/TENCOR Candela CS20V是為半導體加工設計的高精度掩模和晶圓檢測設備。該系統提供了先進的光學計量能力,並利用高精度成像傳感器來識別蒙版和晶片圖樣中的缺陷和缺陷。該單元還提供了用於數據分析和缺陷表征的綜合軟件套件。機器使用兩種成像技術來檢測掩模和晶片的缺陷,包括色度成像和廣角成像。色度成像用於檢測缺陷與周圍區域的顏色差異,而廣角成像則可以檢測各種大小、形狀和深度的缺陷。該工具還包括一個離軸成像機械師,它使用不相幹的光源來更精確地識別小的和難以檢測的缺陷。KLA CANDELA CS 20 V還具有最先進的光學計量功能,使用戶能夠測量關鍵特征,包括晶圓上的關鍵結構特征和接觸孔尺寸。資產將錯綜復雜的算法與先進的光學技術結合在一起,後者在微觀層面上提供了對諸如深度、寬度和高度等主題的超精確測量。該模型包括自動檢測缺陷的專有圖像和信號處理軟件,使用戶能夠跟蹤信號中的微弱模式並識別微小缺陷。它還包括自動表征軟件,進一步簡化了缺陷的表征和檢查過程。該軟件易於使用,並與KLA其他產品無縫集成。TENCOR CANDELA CS 20-V是一種先進的檢測設備,具有先進的光學計量能力、高精度成像傳感器,以及用於數據分析和缺陷表征的強大軟件套件。適用於半導體加工,以及其他檢驗應用,為檢測掩模和晶片缺陷提供了可靠、準確和用戶友好的解決方案。
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