二手 KLA / TENCOR SLF27 #9298724 待售

KLA/TENCOR SLF27是一種掩模和晶片檢查設備，使用創新的專有掃描技術掃描晶片是否有任何異常或不規則性。它專門設計用於檢測掩模和晶圓表面上的任何物理缺陷。該系統利用專門的光學檢查技術，密切分析晶片或掩模的任何潛在問題。KLA SLF27采用混合光學掃描技術，將兩臺配有專有光學器件的相機結合起來，收集每一個缺陷的圖像。該裝置高度敏感，可進行精確、高效的檢查和查明缺陷覆蓋範圍。這種高效的檢測使計算機能夠快速識別任何異常或缺陷,並以易於讀取的格式顯示。TENCOR SLF27能夠快速掃描掩模或晶片的表面,以檢測其與以前確定的規格之間的任何差異。平均模式檢測周期時間為0.2-0.4秒，面罩檢測周期時間為0.1-0.2秒，機器可以快速識別出任何與規格的錯誤或偏差，集成的直觀軟件使得簡單全面的控制容易準確分析數據。此外,SLF27工具還具有提高產量的特殊功能。擁有7英寸觸摸屏顯示屏，用戶可以輕松掃描和檢查，精確度出眾。混合OET（Optical Efficiency Tweezers）允許用戶以其10微米分辨率精確測量每一個有缺陷的元件。該資產還允許用戶使用高分辨率成像技術來測量缺陷大小。KLA/TENCOR SLF27是一種高效、先進的面膜晶片檢驗模型，具有先進的特點，有助於提高產量和優化檢驗。混合OET和直觀的軟件使其非常有效,具有快速的掃描和分析時間,有助於提高產量和降低成本。該設備高度可靠，具有精確的光學和高分辨率成像技術，能夠準確準確地檢測有缺陷的元件。KLA SLF27系統是任何半導體公司確保優質產品的寶貴工具。