二手 KLA / TENCOR SP1 Classic #9250230 待售

KLA / TENCOR SP1 Classic
ID: 9250230
晶圓大小: 8"-12"
Wafer surface analysis system, 8"-12".
KLA/TENCOR SP1 Classic是為半導體工業設計的掩模和晶圓檢測設備。它利用先進的數字成像技術提供快速、可靠和經濟高效的檢查過程。KLA SP1 Classic由三個主要組件組成:晶圓檢查器、圖像處理器和軟件。晶圓檢查器是系統的主要硬件組件。它利用各種高分辨率相機和傳感器,使其能夠以高分辨率精確地捕捉晶片的圖像。此外,可以將設備配置為針對特定客戶需求運行自動測試或自定義測試。圖像處理器是TENCOR SP 1 CLASSIC的關鍵組件,它可以執行復雜的缺陷檢測和分類。它利用專門的算法和模式識別來檢測、識別和標記任何可能的缺陷。它用於檢測和定義晶片/基板級別的缺陷,確定它們在晶片上的形狀、大小和位置。機器的軟件組件是一個功能強大、用戶友好的界面。它允許操作員訪問工具的數據、分析缺陷、查看結果以及控制各種設置和參數。該軟件提供了可自定義的審查和分析工具,為用戶提供反饋和故障排除工具。KLA/TENCOR SP 1 CLASSIC還提供了廣泛的功能升級,可以安裝這些功能以增強資產的功能。這些升級包括增強的照明能力、先進的模式識別算法以及更高分辨率的攝像頭。總之,SP1 Classic是一種功能強大的掩碼和晶圓檢測模型,可提供多功能性、準確性和成本效益。它是測量和檢測微妙晶片缺陷的寶貴工具,是滿足客戶對高精度檢測和過程控制要求的理想選擇。
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