二手 KLA / TENCOR SP1-DLS #9267047 待售

KLA/TENCOR SP1-DLS是一種高級掩模和晶圓檢驗設備，設計用於半導體制造行業。該系統提供全面、高分辨率的成像,能夠掃描各種材料,如光掩模、環氧樹脂材料和防反射塗層。該單元使用最先進的光學成像獲得材料的詳細圖像，提供快速、精確的成像，讓用戶快速識別潛在缺陷。機器內使用的光學元件使用先進的整體式光圈掩模設計,以幫助減少噪音和消除斑點,提供明顯更高的分辨率圖像。此工具還提供了一系列高級圖像分析功能,提供高級算法以快速檢測缺陷,同時最大限度地減少由分散信號引起的錯誤結果和錯誤警報。成像資產還允許在不同類型的樣品之間進行快速轉換,從而有助於減少或消除停機時間。KLA SP1 DLS使用超高分辨率探測器陣列,該陣列以每秒50幀的速度掃描材料,確保對所有材料進行一致的分析。用戶甚至可以安裝和配置特定於應用程序的檢測算法，以便最適合他們的特定應用程序。此外，該模型還能夠自動測量和跟蹤不同的樣品參數，如缺陷大小、形狀、位置和密度。該設備還對檢測到的缺陷進行自動分類,以提高效率。這些特性使得TENCOR SP 1-DLS系統成為一種可靠、高效的掩模和晶圓檢測解決方案。它具有高水平的成像和分析功能,非常適合任何需要高質量、高分辨率、可靠和準確的成像結果的操作。此單元非常適合尋找卓越的掩碼和晶片缺陷檢測功能的操作。