二手 KLA / TENCOR SP1-TBI #9145376 待售

KLA/TENCOR SP1-TBI是一種掩模和晶片檢測設備，旨在方便快速準確地測量晶片上的缺陷水平。該系統具有很高的性能,非常適合用於從半導體生產到MEMS制造等多種應用。KLA SP1T-BI的核心是它的2D成像技術。這項技術允許它以快速掃描的速度以高精度檢測小缺陷。它配備了超快、1200萬像素的低密度CMOS探測器，使其能夠實時捕獲高分辨率圖像，使其能夠檢測到掩模和晶圓輪廓的細微變化。該單元還具有集成的復雜圖像處理和分析算法,如3D圖像分析,可以測量掩碼和晶圓地形,揭示圖樣中的缺陷,並量化圖樣特征的不均勻性。此外,機器能夠提供關鍵過程控制參數的快速反饋,如配準偏移和放置精度。這使得該工具非常適合流程開發和流程監控應用程序。TENCOR SP1 TBI旨在為掩模和晶圓檢測需求提供靈活、全面的解決方案。它的模塊化設計使其易於集成到現有的制造過程中，而且其用戶友好的圖形界面和直觀的操作使其易於使用。此外，由於其可靠性和準確性，它非常適合用於長期生產運行。它還具有高級流程控制、審核跟蹤和診斷功能,使其能夠保持在校準參數之內,並能夠檢測和報告任何違規行為。總體而言,KLA SP1 TBI是一項先進的成像資產,可提供快速、準確和全面的成像功能,這對於掩碼和晶圓檢查至關重要。憑借其高性能成像技術、精密的圖像分析算法以及全面的過程控制和審核跟蹤能力，該模型是研究和生產的理想選擇。