二手 KLA / TENCOR SP1-TBI #9249676 待售

KLA/TENCOR SP1-TBI是一種掩模和晶圓檢測設備,旨在識別單個像素級別上集成電路中的缺陷。該系統采用先進的光學和自動化技術，以提供檢查汙染物面罩和晶片的速度和準確性。KLA SP1T-BI設計用於檢查矽和不銹鋼等多種材料和介質。TENCOR SP1 TBI中使用的先進成像單元結合了光學變焦能力和高分辨率數碼相機。這種組合產生的圖像分辨率大於200百萬像素。捕獲高分辨率、彩色、立體聲和3D圖像。然後使用4百萬像素CCD處理這些圖像,生成像素間距為0.05um的圖像。KLA SP 1-TBI能夠使用高速圖像處理器快速分析圖像。該處理器與高級算法協同工作,為用戶提供所檢查的特定晶片或掩模幾何的廣義視圖,使他們能夠確定材料中可能存在的缺陷。此處理器還允許在過濾出有害數據或誤報時自動比較圖像。KLA/TENCOR SP 1-TBI還配備了高級視覺軟件,使其能夠識別邊緣、單個像素或其他物理特征。此軟件可進行編程,以識別小至0.1微米的缺陷,允許用戶檢測和檢查肉眼可能遺漏的單個和微小缺陷。此外，SP 1-TBI還具有其他對用戶有利的功能，如自動晶片定位、自動映射功能以及用於檢測晶片缺陷的一套分析。獨特和創新的取景器功能允許用戶實時查看圖像，而無需等待數據處理。KLA SP1 TBI是開發非常精細的微型電路的重要工具。它常用於半導體工業，為質量控制目的提供詳細的檢驗。KLA/TENCOR SP1 TBI結合了光學技術和先進的圖像處理技術，能夠提供極其精確的結果。憑借其強大的性能,這臺機器是尋找和檢查各種材料中最小缺陷的理想解決方案。