二手 KLA / TENCOR SP2 #293698892 待售

KLA/TENCOR SP2是提供高精度掃描和圖像分析的掩模和晶圓檢測設備。它是將先進的半導體技術和光學技術結合在單一平臺上進行過程控制的最先進的工具。KLA SP-2能夠提供快速、自動化和準確的結果,用於檢查和分析各種光掩模和晶片。TENCOR SP 2系統配備了多種不同的掃描和成像技術，有助於檢測各種缺陷。這包括光束感應電流（OBIC）成像、亮場、暗場、差分幹涉對比度（DIC）、相移成像（PSI）和紅外成像。利用這些強大的掃描技術，SP2單元能夠分析和檢測小至4µm的缺陷。該機器的設計目的是提供快速的結果，快速快速、準確地分析和處理大量數據。其復雜的算法可以檢測和量化缺陷，並可以添加統計過程控制（SPC）算法和缺陷聚類分析等附加功能。KLA SP 2還具有大量的自定義和標準圖像工具和過濾器,使用戶能夠控制和靈活地最好地分析其數據。KLA SP2提供實時在線缺陷審查。這允許單個操作員同時查看許多不同檢查字段中的缺陷位置。它還為遠程決策提供基於Web的審查功能,確保數據和結果的準確性。此外,SP 2還能夠與其他工業自動化過程（如晶圓和掩模載流器）集成。KLA/TENCOR SP 2也是高度可定制的,它提供了一系列自定義選項,允許用戶根據自己的特定需求配置工具。它還包括易於使用的內置用戶界面、允許數據共享和協作的強大網絡以及高級數據處理選項。KLA/TENCOR SP-2為掩碼和晶圓檢查提供了一個全面的解決方案,將強大的掃描和成像功能與高級軟件和定制選項相結合。它是一種強大而可靠的資產,可確保準確檢測缺陷、快速可靠的結果以及人員之間的高效協作。