二手 KLA / TENCOR STARlight 301 #116791 待售

KLA/TENCOR STARlight 301是一款功能強大、用途廣泛的掩模和晶圓檢測設備，設計用於檢測集成電路和光掩模。KLA STARlight 301系統兼具晶圓和掩模檢查功能，使其成為檢測缺陷、識別零件編號和標簽以及獲取統計數據的理想選擇。該單元具有全方位的鏡頭大小和現場大小選項,即使正在檢查復雜的功能,也能提供高水平的速度和準確性。其先進的成像能力和內置的特征庫支持對更精細、更復雜特征中的缺陷進行檢查。此外，KLA軟件允許用戶根據自己的具體應用量身定制檢查結果。這臺機器的設計可以容納不同的圖案、基板和特征尺寸。免費軟件包提供了充分利用該工具所需的工具,包括晶圓對齊、缺陷評估和數據報告工具。TENCOR STARlight 301還提供在線和離線編程功能,以及用於快速可靠設置的高級對齊解決方案。STARlight 301為用戶提供了多種檢查技術。從高速截面到超高放大成像,此資產能夠檢測小缺陷、小至15 nm的特征以及半導體行業中其他至關重要的特征。TENCOR高級算法提供準確可靠的結果，然後以易於閱讀的格式報告。分析引擎允許您以各種格式查看數據,便於快速決策,並存儲行尾驗證結果以供將來使用。綜上所述,KLA/TENCOR STARlight 301提供了先進的掩碼和晶圓檢測功能。它具有一系列的拍攝和現場大小，支持各種基材和特征大小的快速和準確的檢查。它的高級映像功能和軟件包為用戶提供了最大限度地發揮模型潛力所需的工具。此外，該設備還能夠檢測小缺陷、小至15納米的特性，並提供在線或離線編程功能。