二手 KLA / TENCOR STARlight SL3 Series #9101332 待售

KLA/TENCOR STARlight SL3系列是一款前沿的檢測設備,旨在對半導體制造業的掩模和晶片進行深入分析。該系統利用先進的成像技術，以較高的精度和分辨率檢查產品的所有層。KLA STARlight SL3系列由SL3000、SL3200和SL3100三種型號組成。每種型號都有自己獨特的功能，旨在滿足各種客戶的需求。該SL3000配備了高通量自動晶片檢測儀和大面積晶片檢測儀，用於檢測掩模和晶片中的缺陷。SL3200系列采用晶片檢測機，專為檢查大面積晶片而設計，分辨率和精度都很高。SL3100模型提供了完整的晶片散焦能力和高分辨率傳感器，用於檢查面罩和晶片。TENCOR STARlight SL3系列提供了表面缺陷檢測、缺陷隔離、CD和薄膜測量、叠加計量、光刻模式評估以及模模缺陷檢測等多種檢測功能。這些功能中的每一項都旨在為客戶提供產品質量的全面視圖。該工具還包括一個粒子檢測功能，用於檢測和隔離晶圓上的粒子汙染物。除了提供卓越的產品檢查功能外,STARlight SL3 Series還提供了許多高級軟件功能,包括缺陷審查模塊、自動缺陷修復器、關鍵尺寸分析工具、缺陷聚類工具和缺陷分析工具。這些軟件功能優化了整個檢查過程的工作流程,並確保客戶能夠快速發現缺陷並改進其過程控制。KLA/TENCOR STARlight SL3系列結合了兩全其美：高性能成像技術和先進的軟件工具。結合起來，這兩個功能為客戶提供了對產品質量的全面觀察。該資產專為生產和研發客戶設計,為他們提供提高質量和縮短周期所需的解決方案。通過利用KLA STARlight SL3系列的先進成像技術和軟件,客戶能夠確保其產品達到質量和一致性的最高標準。