二手 KLA / TENCOR Surfscan SP1 Classic #9211403 待售
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已售出
ID: 9211403
晶圓大小: 8"
優質的: 1997
Wafer surface analysis system, 8"
Open cassette handler with single end effector
Polished silicon 95% capture: 0.08 um defect sensitivity
Defect map & histogram with zoom micro view measurement capability
Up to 150 wafers per hour throughput on 200 mm wafers
Illumination source:
30 mW Argon-ion laser
488 nm Wavelength
Operator interface: MS Windows NT 4.0
TFT Flat panel display
Parallel printer port
Operations manual
1997 vintage.
KLA/TENCOR SP1 Classic是為生產和研發應用而設計的掩模和晶圓檢測設備。它為要求最苛刻的缺陷檢查應用提供了高分辨率的直接視圖檢查、自動缺陷審查和光學在線計量的組合。SP1系統提供了可調成像設計,允許快速準確地獲取大小、放大倍率和重復率各異的圖像。成像設計包括全方位的數字圖像和軟件組件,如先進的光度、輻射和圖樣識別算法,以及一個多點照明單元。SP1機還提供高達1.0微米間距的高分辨率成像,足以查看臨界尺寸(CD)結構,以及成像低放大倍數缺陷。此外,SP1工具能夠以高達每秒2000幀的速率捕獲圖像,並且可以配置為在24小時內對整個晶圓成像。SP1資產的成像設計得到了前沿缺陷審查模型的補充,該模型采用了強大的視覺算法、復雜的數據分析工具和復雜的自動分類設備。這一缺陷審查系統有助於對各種缺陷類型進行自動檢查,包括過程引起的顆粒、開口/溝槽缺陷和PSM。缺陷查看單元還可以配置為合並用戶定義的測試,如自動BGA連接測試,或簡單的像素比較測試。此外,SP1機器采用集成的光學在線計量工具,可全面測量晶圓輪廓形式及其相關的臨界尺寸。此計量資產能夠測量各種關鍵尺寸,包括覆蓋、線寬和間距、臨界區域大小、臨界層厚度和線緣粗糙度。最後,SP1模型還包括一套高級軟件工具,簡化了圖像數據的采集、處理和存儲。這些軟件工具包括詳細的缺陷分類分析、自動缺陷標記和修復功能,以及復雜的光度和輻射成像選項。總體而言,KLA SP1 Classic是一種先進的掩模和晶圓檢查設備,為各種缺陷檢查應用程序提供了廣泛的功能。SP1設備具有可調成像設計、高分辨率成像、自動缺陷審查系統和光學在線計量功能,非常適合需要全面缺陷檢查解決方案的生產和研究環境。
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