二手 KLA / TENCOR WI-2250 #293607201 待售

KLA/TENCOR WI-2250是為半導體制造商提供高質量缺陷檢測性能的掩模和晶圓檢測設備。它采用了先進的技術,如申請專利的WaveSight TM成像技術,與傳統的陣列化解決方案相比,它提供了高達50%的靈敏度。它使用脈沖激光束和高分辨率CCD相機對最復雜的缺陷特征進行臨界檢查，提供最可靠、準確的結果。該系統適用於光學掩模檢測、光掩模圖樣檢測、缺陷檢測計量、芯片對芯片檢測、叠加計量、晶片對晶片成像等應用。它設計用於檢測甚至很小的缺陷，如針孔、劃痕和小至0.2微米的塵埃顆粒。該檢測單元提供卓越的圖像質量,使可靠的缺陷覆蓋和快速的吞吐量.KLA WI-2250還具有自動對焦和自動校準功能,便於操作和快速啟動。例行操作不需要操作員，可以方便地對機器進行培訓和更新，以滿足晶圓檢查的需要。光學工具由專利幹涉儀、遠程中心成像資產、5倍光學變焦鏡頭、集成照明模塊和高分辨率CCD相機組成。成像過程也與SPC（統計過程控制）兼容，以確保為每一個新層實現新的過程配方。TENCOR WI-2250模型能夠為掩碼評估、電路和模具模式識別以及叠加計量應用提供高精度測量。它符合最新的3D評估行業標準,並有保修作為後盾,以確保質量和可靠性。WI-2250是掩模和晶片檢驗的理想選擇，適用於最先進的半導體器件制造工藝。它提供了超強的靈敏度來檢測低至0.2微米的缺陷特性、可靠的缺陷覆蓋範圍和快速的吞吐量,使其成為滿足您所有缺陷檢測需求的理想選擇。