二手 KLA / TENCOR WI-2280 #9382888 待售

KLA / TENCOR WI-2280
ID: 9382888
Wafer inspection systems, 6".
KLA/TENCOR WI-2280面膜和晶圓檢測設備是一種綜合性機器,為非導電試驗基板提供完整的粘結和靜態檢測解決方案。它使用獨特的光學系統來識別缺陷,包括導電顆粒、短褲、開口和基板缺陷。KLA WI-2280還提供各種角度和放大倍率的高分辨率圖像。TENCOR WI-2280利用先進的光學設備對整個測試基板進行檢查,從各個角度和放大倍率產生高對比度圖像。成像光學器件以全彩色捕捉測試基板清晰清晰的圖像,放大倍數可達1000倍。該光學器件還允許對測試基板進行頂部和二級表面成像,從而使機器能夠識別寬度降至0.35 µm的缺陷。WI-2280還具有自動圖像捕獲和處理工具,旨在提高缺陷分析的速度和準確性。它能夠每秒攝取多達1500張圖像,圖像處理可以提高測量精度,減少測試時間。此外,自動圖像分析軟件允許用戶自定義圖像分析的靈敏度,並快速識別缺陷的存在和像素區域。KLA/TENCOR WI-2280還包含一個自主缺陷分類資產,該資產自動對檢測到的缺陷進行排序,以獲得快速通過/失敗結果。這允許用戶快速確定樣本是否通過測試或需要進一步分析。此外,該模型還通過其集成的OCAP軟件提供靈活的匹配功能,使用戶能夠根據其特定要求調整匹配參數。總體而言,KLA WI-2280是一種綜合性的機器,為非導電試驗基板提供完整的粘結和靜態檢測解決方案。它利用強大的光學設備、自動圖像捕獲和處理系統,以及自主缺陷分類單元,快速準確地識別和分類寬度不超過0.35µm的缺陷。OCAP軟件的靈活匹配功能進一步提高了機器的準確性和速度,使用戶能夠有效地執行通過/失敗檢查和詳細分析。
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