二手 LEICA APECS 3020 #9410740 待售

LEICA APECS 3020是一款高性能的掩模和晶圓檢測設備，旨在滿足半導體行業的嚴格需求。該系統通過提供一系列自動方法快速準確地檢查掩模和晶片來消除手動錯誤。該裝置能夠檢查直徑不超過6英寸、特征尺寸不超過1.0um的光刻面罩,並通過其先進的成像技術提供卓越的3D分析能力。APECS 3020利用先進的自動光學檢查（AOI）技術，快速準確地檢查掩模和晶圓圖樣。AOI使用數字圖像采集從掩模表面獲取成像數據，然後處理這些數據生成數字圖像。然後分析此圖像,並將其與預先定義的一組標準進行比較,以檢測和識別潛在的掩模缺陷或不規則性。該機配備了高精度級和先進的軟件算法，以確保精確精確的晶圓檢測。高分辨率階段允許精確檢測晶片表面上的小特征,而高級軟件算法有助於確保對掩模表面上的特征進行精確的位置測量。LEICA APECS 3020還具有直觀的控制和易於使用的用戶界面,用於直觀操作以及對掩碼和晶圓檢查過程的精確控制。可通過觸摸屏和符合人體工程學的鍵盤訪問所有工具控件。資產還提供多種數據存儲格式,如TIFF、JPEG、RAW、GIF和BMP,用於保存分析結果。APECS 3020配備了多種高級功能,以確保在盡可能短的時間內獲得最佳效果。這些功能包括高速掃描、內置缺陷修復、自動對焦控制、高級圖像處理和數據分析功能、逐像素掩碼檢查、自動缺陷校正和自動報告功能。這些特性結合其先進的掩模和晶圓檢測技術，提供了無與倫比的準確性、可靠性和速度。總之，LEICA APECS 3020是為滿足半導體行業的嚴格需求而設計的強大的掩模和晶圓檢測模型。該設備配有先進的光學設備、直觀的系統控制以及各種自動化和分析功能,能夠快速準確地分析掩模和晶片。APECS 3020可以幫助確保所有半導體器件的最高質量和可靠性。