二手 LEICA INS 2000 #293626746 待售
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LEICA INS 2000是來自LEICA Microsystems的掩模和晶圓檢測設備。該免提裝置旨在最大限度地提高吞吐量,並識別最復雜的掩模向下光刻系統上最小的缺陷,最高可達1 X、2 X和5 X標線,是快速檢查臨界正面和背面掩模缺陷的理想之選。INS 2000包括先進的運動學和診斷技術,對於確保掩模和晶片或薄膜的精確對齊至關重要。通過自動設置、並行檢測和晶圓測量,機器消除了操作錯誤,並消除了手動對準所浪費的時間。這樣可以確保以最快的速度獲得最高質量的結果。LEICA INS 2000使用名為「共焦成像」的專利光學方法，以最高分辨率檢查掩模和晶片表面。這種方法依賴於一種基於低功率激光光源與掩模或晶片表面相互作用的成像技術。該工具捕獲具有亞微米分辨率的曲面結構的高分辨率圖像。INS 2000配備了自動缺陷跟蹤軟件，以進一步減少人工，實現更準確可靠的結果。資產還具有缺陷分類和優先級劃分選項,這些選項通過根據大小和特征屬性對檢測到的缺陷進行分組來簡化流程。這樣可以確保更高效的生產過程,並有助於降低成本。LEICA INS 2000還采用模塊化設計,可根據生產需求的變化輕松調整模型。結合其高速度、準確性和可重復性，使其成為高吞吐量檢測過程的理想選擇。INS 2000是一種先進的掩模和晶圓檢測設備，它采用了最新的技術和成像技術來識別精確的表面地形。該系統能夠快速高效地檢查掩模和晶片表面,這對於提供一致和可靠的最終產品至關重要。LEICA INS 2000采用模塊化設計和專利光學系統,是一種無與倫比的屏蔽和晶圓檢測系統解決方案。
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