二手 LEICA INS 3000 DUV #293628457 待售

LEICA INS 3000 DUV是一款領先的面罩和晶圓檢測設備，設計用於檢測亞微米缺陷。該系統提供高分辨率、自動化的映像解決方案,使用戶能夠快速識別和識別各種應用程序的缺陷。借助量子測井探測器,INS 3000 DUV可提供高動態範圍和更大的信噪比。LEICA INS 3000 DUV具有探測最小顆粒的能力，低至0.1µm，同時在矽片、光掩模、玻璃板、陶瓷封裝和其他金屬化物體等多種基板上提供優異的效果。它可以檢測汙染，以及查明缺陷、裂縫和凹坑。該單位提供高等級的掃描和檢查技術，使用戶能夠實現樣品的全覆蓋，確保與人工檢查相比，在一小部分時間內進行可靠的缺陷檢測。自動化軟件設置提供了一種簡化的方法,可根據用戶的特定需求優化計算機並準確識別缺陷。INS 3000 DUV還提供了一套全面的打印分析工具,以確保表面連續性和背景減法功能。各種圖像處理和過濾功能有助於提高準確性，縮短檢查周期。總體自動化模式允許工具掃描樣本並生成盡可能高的對比度圖像以獲得最佳檢測結果。除了為用戶提供卓越的檢測能力外，LEICA INS 3000 DUV還允許他們定義自定義蒙版、驗證幾何形狀以及測量參數，以快速識別潛在缺陷。它還提供可重復性測試和自動缺陷分類,並允許廣泛的用戶控制,包括放大、圖像處理、分辨率、亮度、對比度和缺陷閾值。INS 3000 DUV非常適合需要自動聚焦、標記或缺陷審查的過程,因為它提供了高分辨率的3D掃描功能。它的雙面視圖和多場縫合技術能夠快速精確地進行測量。總體而言,LEICA INS 3000 DUV是檢測和表征掩碼和晶片應用中的缺陷的高效而精確的資產。它為用戶提供了快速、準確和可靠的掃描和檢測表面缺陷的方法,同時還提供了各種可定制的功能和工具。