二手 LEICA INS 3000 DUV #9265730 待售

ID: 9265730
晶圓大小: 8"
優質的: 2000
Macro defect inspection system, 8" Loading configuration: ASYST SMIF (2) Cassette stations Hard disk, 3.5" Microscope objectives: 2.5x, 5x, 20x, 100x, 150x, 250x Option: Bright and dark field illumination Damaged parts: Workstation Diaphragm module Pre-aligner with tumble and stage unit Includes: Clean room manuals CD-ROM Manuals Calibration standards UV Illumination Confocal Signal light tower Operation system: Windows NT 4.0 Power supply: 208 V, 60 Hz 2000 vintage.
LEICA INS 3000 DUV是為先進晶圓制造應用而設計的最先進的掩模和晶圓檢測設備。該系統利用高分辨率成像單元、超穩定隔振平臺和先進的工作流軟件套件,精確測量可影響晶體管、電阻等集成電路性能的缺陷。利用先進的技術,該機器能夠識別和測量晶圓制造過程中的缺陷,使工程師能夠詳細了解材料的結構完整性和性能。INS 3000 DUV利用超穩定的隔振平臺,保證了檢測高度局部化缺陷的理想環境。借助這一特殊平臺,該工具提供了卓越的成像穩定性,能夠進行更精確的測量。此外,超低的照明水平允許卓越的對比度和靈敏度在不規則,以及亞微米分辨率。資產復雜的工作流軟件套件有助於數據采集和缺陷分析。該軟件為用戶提供了輕松訪問模式和缺陷的高分辨率圖像,結合各種算法進行缺陷評估和分類。此外,該軟件還使用戶能夠存儲大尺寸的晶圓數據並記錄可追蹤性信息。LEICA INS 3000 DUV是一款功能強大、可靠的用於半導體行業最苛刻應用的掩模和晶圓檢測模型。設備的精密監控和分析能力,加上其卓越的成像技術,有助於實現缺陷檢測的最高精度。該系統的隔振平臺和高級工作流軟件提供了一個安全可靠的工具,可幫助降低成本、提高產量並確保產品質量。
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