二手 LEICA INS 3000 #293619072 待售

LEICA INS 3000
ID: 293619072
Wafer defect inspection system SMIF.
LEICA INS 3000是一款功能強大的掩模晶片檢測設備,提供全面的質量控制和生產過程控制。該系統是專門為幫助提高產量和產量在生產過程中,確保更高的晶圓質量量身定制。該單元采用高功率180kV平板X射線源,可為掩模或晶片上的所有層提供清晰清晰的圖像,而不管該層的方向或復雜性如何。機器的成像能力大大減少了檢查時間,因為可以同時檢查多層和多個區域。該工具還具有激光聚焦能力,可用於檢查任何尺寸或任何材料。此外,LEICA INS-3000使用基於數字圖像處理中使用的相同原理的算法提供了一種自動缺陷檢測功能。這樣可以確保最大精度,同時保持最高質量控制級別。檢查資產包括種類繁多的圖像處理軟件,如直方圖處理、自動閾值設置、形態功能等。所有這些功能都有助於識別掩模或晶片上的缺陷和差異。INS 3000還具有直觀的圖形用戶界面(GUI),可輕松控制和導航模型。GUI還允許存儲掩碼和晶圓檢查結果,以便將來進行比較和參考。此外,該設備能夠連接到外部數據庫,便於共享和整理掩碼和晶圓檢查數據。最後,INS-3000包括一個綜合警報系統,在檢查過程中提醒操作員任何差異或潛在缺陷。這有助於減少停機時間,因為運營商能夠快速識別和糾正任何令人關註的問題。總體而言,LEICA INS 3000面膜和晶片檢驗裝置是確保任何生產線最高質量控制水平的寶貴工具。高功率成像功能、自動缺陷檢測和集成警報機有助於提高產量並減少停機時間,而直觀的圖形用戶界面和外部數據庫連接則允許對檢查數據進行快速校對和分析。
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