二手 LEICA INS 3000 #293635907 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

ID: 293635907
Wafer defect inspection system.
LEICA INS 3000('mask&wafer inspection'設備)是設計用於半導體工業的專業級工具。由LEICA Microsystems開發,結合了掩模檢測系統、晶圓檢測單元和自動化過程控制機器的功能。該工具由第4代英特爾Core-i7處理器提供支持,並與Windows 7x64 Ultimate操作資產一起運行。它具有32 GB的RAM,以及用於數據存儲的500 GB硬盤。用戶界面為10.4英寸TFT液晶觸摸屏顯示屏。LEICA INS-3000采用緊湊的封閉式幹涉儀,允許高分辨率檢查,減少光源噪聲。它還有一個剛性光學模型,旨在最大限度地減少氣流的波動。這樣可以確保最佳的圖像分辨率和質量。設備配備了先進的全自動檢查流程。系統可以檢測到尺寸低至0.02微米的掩模或晶圓中的缺陷。它具有檢查一系列特征(如線邊和圓形特征)的靈活性。該單元還支持過程控制監控,通過減少停機時間和產量損失來節省時間和資金。它以速度和精確度檢查諸如蝕刻電路、光致抗蝕劑、介電和透矽通氣(TSV)等材料。INS 3000面膜晶片檢測機在滿足半導體行業需求方面表現出色。配備先進技術,耐用,可長期用於工業環境。該工具提供了出色的成像、過程控制功能和數據存儲,從而實現了更高效的板載生產。
還沒有評論