二手 LEICA INS 3000 #293689181 待售

ID: 293689181
優質的: 2000
Wafer defect inspection system 2000 vintage.
LEICA INS 3000是一種堅固的掩模和晶圓檢測設備,以其先進的設計、領先的分辨率和可靠的自動化過程而聞名。它能夠掃描300 mm晶圓的全自動處理過程的缺陷捕獲,提供了一個易於使用的設計,非常適合在最微小的水平上以最高的精度分離缺陷。該系統通過其集成的一套高分辨率光學工具來檢測、表征和分類物理和電氣缺陷。其中包括Tomo寬帶照明陣列、現場發射SEM單元以及高分辨率RGB成像。進一步使LEICA INS-3000的性能受益的是它對一系列提高產量的圖像處理功能的支持。其中包括高級特征和密度檢測、智能模式識別,以及用於捕獲光柵和尺寸為0.2 μ m的特征的精密縫合。此外,集成的缺陷預分選模塊利用現有的庫數據和自動報告功能提供了最高的準確性級別。該股還配備了許多靈活的分析工具,主要用於協助工程師開發創新的工藝檢查解決方案。集成軟件套件具有增強的AutoFE-SAM分析功能,包括圖像照明控制以及一套改進的比較圖像處理工具。改進的模式識別功能還輔以現場培訓課程和教程,使客戶能夠定制他們的視覺檢查分析。憑借靈活的配置,INS 3000機還支持端面和線鍵檢測、顆粒檢測、多種應用的具體檢測等多種生產操作。它與其他自動化設備的緊密集成保證了更快、更可靠的處理性能。總之,INS-3000工具提供了可靠的自動掩模和晶圓檢查.它旨在滿足半導體行業對具有先進檢測能力、快速吞吐量和高級缺陷分類功能的工具不斷增長的需求。
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