二手 LEICA INS 3000 #9186595 待售

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ID: 9186595
晶圓大小: 8"
優質的: 1999
Wafer defect inspection system, 8" SMIF 1999 vintage.
LEICA INS 3000是一種掩模和晶圓檢測設備,能夠對高密度半導體產品進行精確的測量。這一先進技術增強了質量控制,減少了出錯的機會。該系統由兩個主要組成部分組成:原子力顯微鏡和高倍率光學顯微鏡。AFM用於測量每個晶片的三維形狀和識別細微的地形特征。光學顯微鏡使用鹵素燈檢測晶片層和光刻圖樣中的缺陷。LEICA INS-3000具有大型桌面設置,可容納大型晶圓。它有一個精確的機械手在檢查時精確移動晶片,以及一個傾斜調整來調節顯微鏡的角度。該單元還集成了先進的軟件,為一次檢查多個功能提供了直觀的工具。用INS 3000檢查每個晶片的過程是自動化的。一旦操作員將晶片放在桌子上,檢查過程就會啟動。然後機器將使用AFM來測量晶片的三維形狀,並檢測光學顯微鏡可能沒有檢測到的任何缺陷。INS-3000包括一整套用於分析檢查結果的後處理軟件功能。它提供易於閱讀的圖形和數值來量化測量的準確性。該工具還生成詳細的日誌,用於分析任何進程更改。LEICA INS 3000是一種結合了精確度和精確度的最先進的晶圓檢測資產。它具有直觀的界面和強大的軟件,是高密度半導體生產和質量控制的理想選擇。該模型提供了改進的過程控制、更高的可靠性和更好的產量。
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