二手 LEICA INS 3000 #9200394 待售

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ID: 9200394
Wafer defect inspection system.
LEICA INS 3000是最先進的掩模和晶圓檢測設備。它具有業界最高的分辨率和放大能力,適合最苛刻的檢驗應用。該系統結合了高精度光學單元和高功率成像機。這種組合使得LEICA INS-3000非常適合檢測集成電路和其他組件中的微小缺陷。該工具采用獨特的、緊湊的光學設計和電動半球鏡,確保整個檢查區域的整潔和均勻的層壓。該資產的檢測精度為0.5um,是檢測半導體掩模和晶圓的理想選擇。此外,INS 3000還配備了先進的CCD攝像頭,能夠捕獲高達4K分辨率的圖像。這些高分辨率圖像可幫助用戶清晰識別可能導致生產問題的微小甚至亞微米缺陷或顆粒。INS-3000具有快速和詳細檢查功能的多步驟檢查模型。此設備檢查每個像素,並檢測晶片或掩模中的任何分鐘不一致。此外,系統還附帶軟件,使其能夠自動調整顏色和對比度級別,以確保準確的結果。LEICA INS 3000可以快速輕松地處理大量數據,其圓滑的用戶界面使用戶更容易控制單元和解讀檢測數據。機器還包括一個全面的報告和分析功能,用戶可以使用它生成詳細的檢查報告。該工具也非常可靠,幾乎免費維護,是批量生產的理想選擇。LEICA INS-3000是一種功能強大、可靠的掩模和晶圓檢測資產,提供無與倫比的準確性和效率。它易於操作、高度可靠,並提供出色的分辨率。對於任何想要在檢驗過程中保證質量和準確性的半導體制造商來說,該模型是一個理想的選擇。
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