二手 LEICA INS 3000 #9285578 待售

LEICA INS 3000是一種綜合性的掩模和晶圓檢測設備，設計用於對電子器件的圖樣保真度、缺陷、蝕刻和薄膜厚度進行精確檢測。利用獲得專利的光學設計和先進的成像技術,LEICA INS-3000可實現亞微米分辨率成像和特征分析,從而滿足最嚴格的行業標準和應用。該系統包括高效算法和提供精確成像和檢查的模塊化光學掃描單元。INS 3000使用雙掩碼和晶片機，允許用戶實時監控和查看現場圖像。該工具具有獨立的激光二極管照明源和可調光功率輸出。GRIN光學和極化敏感的擴展景深（EDF）目標進一步優化了成像分辨率,減少了由於光路像差造成的特征偽影。INS-3000具有高分辨率的數字半導體成像儀，它捕獲晶圓上孤立特征的圖像，動態範圍大於4個數量級。該資產還包括一系列專門的信號處理技術，用於吞吐量和降噪，以確保可靠的缺陷檢測和分析。此外,LEICA INS 3000還利用顏色編碼參數模型,這些參數可以進行操作和微調,以識別最精確的缺陷或特征,從而實現最準確的分析。掩模和晶片成像設備采用先進的自動模式識別技術，能夠快速測量和檢測晶片上最小的缺陷。通過完全可定制的圖形用戶界面和動態過程控制系統，用戶可以快速配置設備以滿足其特定的檢測要求和規格。在最先進的半導體技術中,LEICA INS-3000非常適合電子設備原型設計、制造和故障分析。該機器能夠檢測和分析非常小的特征尺寸（<0.5 μ m）,並提供可靠的結果,具有高精度和重復性。INS 3000具有高吞吐量、低噪聲和直觀的特性,為掩模和晶圓檢測提供了全面、經濟高效的解決方案。