二手 LEICA INS 3000 #9410355 待售

LEICA INS 3000
ID: 9410355
Wafer defect inspection systems.
LEICA INS 3000是為半導體制造工藝設計的綜合性掩模和晶圓檢測設備。該系統吞吐量高,擁有成本低,非常適合鑄造廠、IDM和領先或獨立的工廠。LEICA INS-3000是為最大程度地提高可靠性和靈活性而構建的,它為各種應用程序需求提供了真正的無缺陷檢查能力。其先進的光學和軟件技術提高了檢查的速度和準確性,確保了所有缺陷的快速識別和消除。INS 3000單元由一臺精密的晶圓檢測光學機器和一個集成的可編程掩模檢測工具組成。其光學元件利用基於傅立葉光學的自動線掃描顯微鏡,提供高分辨率和對比度。將CCD網格陣列集成到資產中,提高了檢測速度和效率。精密掃描儀、激光器、遠心投影光學器件和激光自動對焦都被納入其中,從而實現了一流的缺陷檢測能力。該模型還具有一個可編程掩模檢查設備,該設備采用了與光學元件集成的高分辨率、多波長成像系統。它被設計用來檢測光掩模和標線上的缺陷,具有高靈敏度和對比度水平。該單元還具有強大的SuperMUM算法,可以檢測表面缺陷(如劃痕、指紋等)以及邊、邊和角、亞像素顆粒和汙染物。除了光學機器和掩模檢查工具外,INS-3000還配備了一套用於數據分析和報告的軟件解決方案。它使用戶能夠快速識別和分類缺陷,並與檢查小組的其他成員共享報告。先進的3D缺陷表征資產也與軟件集成在一起,允許用戶獲得有關個別錯誤的更詳細信息。該軟件用戶友好且直觀,允許更好的協作、決策和質量控制。LEICA INS 3000機型是為實現最高的性能和成本效益而設計的。其強大的設計和先進的技術確保了可靠、準確和高效的缺陷檢測。使用直觀的軟件,用戶可以在問題成為代價高昂的缺陷之前快速識別和糾正問題。LEICA INS-3000是半導體行業的理想工具,也是尋求全面、經濟高效和可靠的掩模和晶圓檢測設備的制造設施的絕佳選擇。
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