二手 LEICA INS 3000 #9412578 待售

LEICA INS 3000是為半導體檢測而設計的掩模和晶圓檢測設備。它是一個高性能、高精度的系統，能夠提供符合所有主要半導體行業標準的檢查。LEICA INS-3000利用高分辨率的CMOS和CCD探測器以及物鏡系統地掃描晶圓和掩碼以發現一系列半導體缺陷。該單元提供了廣泛的檢查模式，包括瀝青提取、分割成像和全場檢查。間距抽取檢查對於分析掩模上緊密間隔的圖樣非常有用,而分割成像設計用於檢測密集和分散圖樣中的某些類型的缺陷。全場檢查允許最高分辨率和準確性,因為它們以精確的精度掃描和比較掩碼上的每個像素。INS 3000還利用了先進的圖像處理技術。這些包括自動對齊、缺陷分類和多尺度分析,使機器能夠一致地識別缺陷。此外,該工具的innerviewer技術還提供實時反饋,以便在檢測到缺陷時向用戶發出警報。該資產設計為易於使用,並提供與各種軟件和硬件組件的集成選項。用戶友好界面簡化，操作快捷高效，自動化對準和測量功能簡化了設置檢查和檢查結果的過程。INS-3000是任何半導體生產應用的理想掩模和晶圓檢驗模型。其分辨率和準確性使其在檢測和分析各種半導體缺陷時極為可靠。設備高度人性化，使操作員快速有效地設置和運行系統變得簡單。LEICA INS 3000具有廣泛的檢測模式和先進的圖像處理能力，為執行全面半導體檢測提供了高效可靠的方法。