二手 LEICA INS 3300 #293628459 待售

LEICA INS 3300是為最苛刻的半導體應用而設計的世界領先的創新面罩和晶圓檢測設備。它具有多種尖端功能,包括近場光學顯微鏡（NFOM）、背面成像以及提供晶片正面和背面高分辨率圖像的先進低光成像功能。該系統配有一個模塊，使其能夠與各種類型的自動化系統相結合，允許完全集成到生產過程中。LEICA INS3300使用獨特的多波長成像單元，對矽晶片正面和背面的缺陷特征提供清晰的可視化。該機器能夠檢查直徑可達300毫米的晶圓大小,並具有符合人體工程學設計的載荷站,可自動加載、卸載和傾斜晶圓。該工具提供各種圖像采集和圖像分析工具,使您能夠快速高效地執行高密度的晶片檢查。它可以檢測各種缺陷，如劃痕、針孔、顆粒、表面汙染和線寬變化。INS 3300先進的缺陷分類工具可以準確測定缺陷類型，使其能夠用於高級產量分析。INS3300還提供了一個集成的缺陷審查資產,可以快速輕松地對缺陷進行審查和管理。此模型允許與其他各種軟件套件集成,並提供可定制的用戶界面,以便於操作。總體而言，LEICA INS 3300是為最苛刻的半導體應用而設計的先進的掩模和晶圓檢測設備。它提供了一套廣泛的圖像采集和圖像分析工具、高級缺陷分類功能以及集成的審查和管理系統。LEICA INS3300結合了最先進的功能和自動化功能,是一個功能強大且可靠的檢驗單元,可幫助您確保高產量和產品質量。