二手 LEICA INS 3300 #9285724 待售

LEICA INS 3300是一種最先進的掩模和晶片檢測設備，設計用於在小型化電子元件的測試和檢查中提供高分辨率、精確的成像性能。它采用先進的光學設計，根據晶圓和掩模檢查的高性能成像需要量身定制。高分辨率光學、多曝光成像和優化軟件的結合提供了卓越的成像性能,提供了最大的準確性和較低的總擁有成本。該系統包括多個探測器，如電荷耦合器件（CCD），或互補金屬氧化物半導體（CMOS）成像儀，提供高分辨率成像性能。可用的成像鏡頭範圍包括光圈範圍為f/2.8-5.0的4倍物鏡和光圈範圍為f/8至f/13的10倍物鏡。該設備采用行業標準的epi-fluorescence配置,配備V-mount成像室和強大的控制平臺,包括主控制模塊、控制器單元和成像控制軟件。LEICA INS3300提供了許多成像和檢查功能。這些包括特征測量、圖像捕捉、模式識別、晶圓對準、光譜分析、模式比較、缺陷檢測和缺陷分析。此外，該機包括專門為半導體器件檢測而設計的算法，能夠更精確地識別掩模、晶圓和封裝制造過程中的缺陷。該工具還具有自動校準程序和自動缺陷識別功能,可提高檢測缺陷的效率和準確性。INS 3300還非常適合用於半導體計量應用,具有自動特征測量功能,以及針對線寬測量、以過程為中心的測量和統計測量優化的算法。該資產專為卓越的計量性能而設計,還配備了快速數據分析、可視化和報告工具。INS3300以緊湊的外形提供高分辨率性能,是各種半導體檢測和計量應用的理想解決方案。該模型提供了一整套功能,旨在最大限度地提高性能,並優化了軟件以改進分析和報告,非常適合那些在半導體器件的檢查和計量方面需要無與倫比的性能的用戶。