二手 LEICA INS 3300 #9393066 待售

LEICA INS 3300
ID: 9393066
Wafer inspection system.
LEICA INS 3300是為超高分辨率檢查Advanced Patterning應用(包括EUV和浸入式)而設計的掩模和晶圓檢測設備。該系統集成了一個超高分辨率雙柱成像單元和精密的檢測軟件,為每個被檢測樣品提供全面的結果。該機配備了25兆像素攝像頭,提供了比傳統光學系統更好的10倍成像分辨率。這種超高分辨率由LEICA專有的最先進的光學器件進一步實現,即使是最具挑戰性的工藝特征也能提供最大的圖像對比度和精確放大倍數。LEICA INS3300隨附的軟件包功能強大,用途廣泛,使用戶能夠快速輕松地為每個應用程序創建檢查計劃和參數集。該軟件具有直觀的圖形界面,具有控制檢查過程的強大選項。它還可以分析和檢測特定於特征的缺陷,提供每個被檢查樣本的詳細報告。INS 3300還具有一整套自動化工具,可提高檢查結果的準確性和可重復性。這包括精確對齊工具、用於詳細特征分析的不同圖像的自動合並,以及用於快速分析的實時缺陷識別。該工具還設計用於模塊化和可擴展性。希望擴展資產功能的客戶可以通過添加額外的成像單元進行多角度檢查、更高的最大放大倍率或擴展視野來實現。總體而言,INS3300是一種先進的掩模和晶圓檢測模型,旨在滿足當今最先進的陣列要求。該設備的超高分辨率成像直觀圖形界面、自動化分析工具和模塊化設計使其成為質量保證實驗室的一個有吸引力的選擇。
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