二手 LEICA INS 3300 #9410296 待售

ID: 9410296
優質的: 2003
Wafer inspection system FOUP Loadport, 12" 2003 vintage.
LEICA INS 3300是專門為高端微電子器件檢測而設計的掩模和晶圓檢測設備。它是由德國精密技術公司LEICA Microsystems開發的,用於在檢查這些高度復雜的部件時確保生產級的速度和精度。該系統由幾個組件組成:一個用於最佳照明和成像的集成光束輸送裝置、一個用於高分辨率檢查的野外發射槍、一個用於樣品制備的後坐力模塊和一個用於控制樣品位置的多軸電機。所有這些組件都安裝在堅固的模塊化外殼單元中。這種專有設計最大程度地提高了工具的靈活性和多功能性,使其非常適合在一系列半導體工藝和產品應用中使用。LEICA INS3300具有直觀的用戶友好界面,便於在不同的操作模式之間移動,如自動導航、叠加比較工具和模式比較。這使工程師能夠快速配置資產以輕松滿足特定的檢查要求。此外,該模型還提供了一系列可供用戶選擇的成像模式,如特寫縮放、最大圖像大小和單芯片掩碼,以及可重復的檢查參數和感興趣的區域。INS 3300的獨特特點包括啟動時間快、高精度納米精度以及能夠在不影響圖像質量的情況下對大面積進行成像。此外,它的模塊化體系結構允許易於互換的部件和易於維護。總體而言,INS3300是一種最先進的掩模和晶圓檢查設備,提供無與倫比的速度、精度和靈活性。它非常適合用於半導體和微電子過程,提供快速啟動時間和一系列用戶友好的成像模式,以獲得最佳效果。這樣,它可以確保快速準確地識別任何缺陷,並以最低的相關能源成本。
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