二手 LEICA INS 3300 #9412588 待售

LEICA INS 3300是為保證半導體工業中使用的矽片質量而設計的掩模和晶片檢測設備。該系統能夠檢測亞微米級圖樣圖像的缺陷，準確測量晶圓表面物體的尺寸和形狀。利用先進的光學顯微鏡和高分辨率相機，LEICA INS3300可以將晶片圖像放大到原始尺寸的2000倍。這樣可以精確檢查晶圓內所含的細微元件。然後，一個復雜的圖像處理引擎利用圖像識別算法來發現圖像中任何可能指示缺陷的不規則性。INS 3300還采用了功能強大的無透鏡檢測技術，使設備能夠檢測缺陷，而不必在多層次放大圖像。這使機器能夠比傳統方法更快速、更準確地檢查晶圓。這也減少了處理時間和潛在的人為錯誤。該工具具有高度精確的線性級,使掃描能夠以高精度覆蓋晶圓的整個表面。同時，該資產能夠選擇不同高度的透鏡提升離開晶片表面的不同層次的檢查。直觀的用戶界面簡化了與模型的交互，並提供了一種簡單、高效的設置和啟動掃描的方法。報告設備還允許用戶對掃描過程中發現的任何違規行為進行分類,並將其存儲起來以備將來參考。INS3300配有一系列附件,例如可編程LED顯示屏和軟件工具,以方便將系統集成到現有工作流程中。通過一系列行業認證，包括ISO9001，這一單元確保半導體制造商獲得最高質量的檢驗服務。