二手 NEONTECH NTM-60A #9144069 待售

NEONTECH NTM-60A是為半導體工業設計的掩模和晶圓檢測設備。它能夠對薄膜面膜層和晶片蝕刻圖樣進行高精度、高速度的檢測和分析。它具有光譜範圍為220-1700nm和75 µm像素大小的10倍光學成像系統以及用於區分材料和物體的靈敏點擴展函數（PSF）單元。通過170 mm的寬視場和變焦能力使機器的高速檢測成為可能。其全分辨率的幀速率從50 fps到100 fps不等,具體取決於視圖區域。該工具使用高級算法進行自動缺陷檢測和報告,並使用智能屏幕顯示,允許單獨查看每個圖像幀、添加註釋和註釋或調整設置。NTM-60A測量面罩和晶圓檢查模式中的各種參數。這些參數包括平均對比度、峰值對比度、標準差、噪聲、噪聲信號比和模糊指數。它還可以測量與曲面相關的參數,如邊對邊平面度、邊緣半徑、步長和密度以及厚度。資產的交互式用戶界面使其易於設置和操作。它具有自動采集和選擇圖像的能力，可以選擇最佳圖像進行分析。可以根據不斷變化的要求修改分析參數。NEONTECH NTM-60A還配備了多種自動化工具,可幫助分析熱點、對齊錯誤和掩碼質量。這些工具能夠精確調整各種參數並減少分析所需的時間。NTM-60A也適用於口罩修復和故障分析。它的多區比較和趨勢分析可以檢測到從線寬變化到光刻過蝕刻或光掩模對準錯誤等問題。它還實現了快速可視化,並可以並排比較圖像以檢查過程中的蒙版。NEONTECH NTM-60A的設計使掩模和晶片的檢測變得快速和容易，並且在一系列半導體應用中提供了可靠和準確的結果。它提高了生產效率和產量，加快了發現和解決掩模缺陷和缺陷的過程。