二手 NEUVIS IR2R #293608593 待售

NEUVIS IR2R是一種最先進的掩模和晶片檢測設備，設計用於以極高的精度檢測表面缺陷。系統利用紅外光譜的特殊能力檢測肉眼可能看不見的缺陷。該單元每小時最多可采集10,000個樣品，尺寸從5µm到70mm不等。它擁有7英寸液晶觸摸屏顯示屏，讓用戶操作輕松直觀。該機采用五種主要技術檢測表面缺陷。它能夠進行靜態或動態測量，其中可以使用各種類型的成像技術，如三角測量或結構光掃描。它還使用掃描白光幹涉測量（SWLI）來測量晶片的表面輪廓，以及反射率掃描、組成成像和橢圓偏振測量表面材料的性質。該工具的設計規模可達大批量,可執行適用於各種基板的高速無損測量,包括矽、玻璃、石英、陶瓷、鋼等。該資產還包括高級缺陷識別和分析功能,使用戶能夠快速識別和表征缺陷。該模型功能強大的軟件套件包括一組AI算法，這些算法提供了一種有效的方法來識別缺陷並確定導致缺陷出現的底層過程。設備的一些更高級的功能包括可定制的通過/失敗標準以確定最佳結果、用於生成被檢查樣本的優化3D映射的數據轉換器以及用於自動缺陷分類的動態模式識別。此外,IR2R還帶有遠程監視功能,用戶可以通過互聯網連接從任何地方監視操作。此功能可幫助用戶即使在遠程工作時也能隨時了解處理狀態。該系統還包括維護工具和性能優化工具,允許用戶輕松診斷單元問題並確保最佳性能。總體而言，NEUVIS IR2R是一種先進的掩模和晶片檢測機，可提供可靠的缺陷檢測和分析結果。該工具功能強大的軟件套件、高速測量、高級缺陷識別和遠程監視功能,使其成為各種生產環境的理想選擇。