二手 RUDOLPH NSX 115D #9232257 待售

RUDOLPH NSX 115D掩模和晶圓檢測設備是生產包含光學微電子元件的集成電路（IC）器件的高度先進的機器。NSX 115D以精密光學、晶圓傳感器和微處理器控制的操作，在兩種檢測模式下提供無懈可擊的精度。通過第一種模式動態成像，這個系統每小時可以完成15000次評估，使用分辨率高達5.0微米的數字圖像。第二種模式「映射」（Mapping）使操作員能夠精確計算設備的尺寸、角度和公差。該設備具有強大的機器性能和多功能性,對於驗證復雜部件的物理特性至關重要。RUDOLPH NSX 115D為掩碼和晶片級應用程序提供了廣泛的檢查功能。這可以讓用戶完全分析他們的微電子裝置結構的正面和背面。此工具利用自動性能調整,可通過掩碼和晶圓圖像快速輸入數據。用戶可以自定義分析,以確保準確性,並在大面積上捕獲高質量的圖像。資產的成像模式可以檢測到芯片縫隙、IC微容量、缺陷點和外部缺陷等故障。此模型能夠生成2D和3D形式的3D數據。對於單面面罩檢查，設備捕獲的細節比其他面罩檢查系統要精細得多，如氣隙、雜質和缺陷。提供準確可靠的結果，NSX 115D掩模和晶片檢測系統大大提高了半導體元件的產量。其單元穩定性和準確性使其能夠用於最復雜的生產過程，提高產品質量並確保高可靠性。