二手 RUDOLPH NSX 90 #9124597 待售

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RUDOLPH NSX 90
已售出
ID: 9124597
Wafer inspection systems.
RUDOLPH NSX 90是一種3D蒙版檢查設備,旨在幫助工程師在檢查光掩模和晶片的同時優化精度和生產力。該系統利用非接觸式3 D掃描技術以高度精確的測量來檢查曲面。通過結合幹涉光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡,NSX 90可以很容易地測量圖樣缺陷、顆粒物、步高、側壁寬度、閘門長度、臨界尺寸以及光掩模和晶圓的粗糙度低至4微米。RUDOLPH NSX 90還包括高級圖像分析功能。復雜的算法會根據預定義的標準和規則自動識別和分類缺陷,從而使缺陷評估更快、更準確。其他功能包括缺陷分類和註釋功能,以及用於存儲獲取圖像的可靠數據庫。該單元還提供高達16倍的光學濾波器選項,允許工程師專註於特定的波長或光源,以減少不必要的光反射,從而在精細的幾何特征和缺陷之間進行更大的對比度。此外,NSX 90還包含可變的光學曲率、可調焦點、低噪聲溫度控制以及經過調諧的光學機器。這些元件的組合導致更高的成像一致性和穩定性,進一步提高精度。RUDOLPH NSX 90旨在簡化掩模和晶圓檢查,為工程師提供卓越的工作流優化、提高產量和降低成本。該工具易於使用,包括用戶友好的UI,允許用戶快速有效地訪問控制和測量功能。作為X-RAY Solutions系列的一部分,NSX 90為X-RAY掩碼檢查和工廠自動化提供了可靠的支持。此外,RUDOLPH NSX 90的連續操作功能允許長時間在緊張的工作流時間範圍內處理復雜的主板分析。最重要的是,資產包括實時反饋和控制功能,幫助用戶及時監控和調整檢查參數。最後,NSX 90為工程師提供了一種功能強大、高效且可靠的掩模和晶圓檢查模型。通過利用先進的3D掃描技術,工程師可以以最高的精度和速度輕松檢查和分類光掩碼和晶片的缺陷。此外,系統強大的光學和圖像分析功能為用戶提供實時反饋和控制功能,以優化工作流優化。
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