二手 RUDOLPH Waferview 320 #9223167 待售
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RUDOLPH Waferview 320是最先進的面罩和晶圓檢測設備。它提供了更高的性能、更高的準確性以及最高的可靠性和生產率。該系統使用各種先進的光學和成像技術來檢測晶片和掩模上的微觀缺陷。Waferview 320利用二維飛行監督檢查單元檢測從10 µl到亞微米的特征和缺陷特征。它有兩個獨立的檢查階段，允許同時成像和處理有缺陷的掩模和晶片特征。該機器能夠掃描高達25毫米的視野，其高分辨率光學器件適用於大小特征。可以從CCD和CMOS設備將各種掩碼和晶圓圖像傳感器集成到RUDOLPH Waferview 320中。Waferview 320具有多項內置功能,可提高性能和工作效率。例如,該工具配備了實時智能驅動的圖像處理器,旨在以最高的效率和準確性發現缺陷。資產還具有自動優化功能,可根據流程目標和不斷變化的條件對圖像設置進行調整和實時優化。RUDOLPH Waferview 320帶有用戶友好、直觀的界面,遠程設置功能使自定義檢查設置變得簡單。此外,該型號還具有廣泛的連接選項,包括USB、以太網、GPIB等。這樣可以輕松地與現有客戶IT系統集成。Waferview 320設計為晶圓和掩模檢查的經濟高效解決方案。它提供了最高水平的生產效率、準確性和可靠性,使其成為當今電子產品生產的寶貴工具。該設備速度快,使用簡單,具有先進的功能,使其成為晶圓和掩模檢查的高效、可靠和經濟高效的解決方案。
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