二手 RUDOLPH Waferview 320 #9223168 待售

ID: 9223168
優質的: 2006
Macro defect inspection system EFEM 2006 vintage.
RUDOLPH Waferview 320提供了最先進的掩模和晶圓檢測技術,用於各種行業的先進工藝控制。這臺設備可以測量和評估各種晶圓尺寸,包括200mm、300 mm和450mm,並且最多支持八個攝像頭,每個攝像頭都有自己獨特的觀看特性。Waferview 320提供了全面的模式識別技術,可以在掩蔽和晶圓檢測階段檢測差異、關鍵缺陷和缺陷。RUDOLPH Waferview 320能夠以無與倫比的精度和精確度檢查高達0.3微米的晶圓圖樣。該系統配備了高速相機,能夠以高達400 fps的速度捕捉圖像,非常適合檢查動態過程。全自動單元還采用了先進的圖像穩定技術,提供了先進的圖像清晰度和一致性。為Waferview 320供電的軟件完全可定制,具有用戶友好界面,便於導航和控制。該機器允許進行全面的數據分析,包括圖形化的可視化和檢查結果的統計摘要。此外,它還采用了復雜的算法,以幫助確保可靠的結果並促進有效的檢查過程。RUDOLPH Waferview 320設計具有卓越的安全功能,包括用於保護用戶的眼睛安全LED。該工具還具有真空密封資產,以及防塵外殼,在使用過程中保護晶圓標本。總體而言,Waferview 320是先進工藝控制的終極掩模和晶圓檢測模型。該設備具有先進的成像功能、先進的軟件功能和全面的安全功能,在確保精確和準確的檢查結果方面非常寶貴。
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